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  1. 21COE
  2. 21COE (2002-2007) -- Productive ICT Academia Program (プロダクティブICTアカデミアプログラム)
  3. P4: 次世代ネットワークと最先端ネットワークLSI
  4. International Conference

FCSCAN: An Efficient Multiscan-based Test Compression Technique for Test Cost Reduction

http://hdl.handle.net/2065/10727
http://hdl.handle.net/2065/10727
dd2dcbe5-2739-424e-ac8d-260aea600f74
名前 / ファイル ライセンス アクション
P4-05-023.pdf P4-05-023.pdf (279.8 kB)
Item type 会議発表論文 / Conference Paper(1)
公開日 2008-04-28
タイトル
タイトル FCSCAN: An Efficient Multiscan-based Test Compression Technique for Test Cost Reduction
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
資源タイプ conference paper
著者 Shi, Youhua

× Shi, Youhua

WEKO 47959

Shi, Youhua

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Togawa, Nozomu

× Togawa, Nozomu

WEKO 47960
e-Rad 30298161

en Togawa, Nozomu

ja ISNI

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Kimura, Shinji

× Kimura, Shinji

WEKO 47961
e-Rad 20183303

en Kimura, Shinji

ja ISNI

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Yanagisawa, Masao

× Yanagisawa, Masao

WEKO 47962
e-Rad 30170781

en Yanagisawa, Masao

ja ISNI

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Otsuki, Tatsuo

× Otsuki, Tatsuo

WEKO 47963

Otsuki, Tatsuo

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書誌情報 Design Automation, 2006. Asia and South Pacific Conference on

p. 653-658, 発行日 2006-01
DOI
識別子タイプ DOI
関連識別子 info:doi/10.1109/ASPDAC.2006.1594760
権利
権利情報 Copyright: Institute of Electrical and Electronic Engineers (IEEE)
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
出版者
出版者 IEEE
データタイプ
内容記述タイプ Other
内容記述 text
HDL URI
http://hdl.handle.net/2065/10727
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Ver.1 2023-07-27 22:22:17.836004
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